PDS-SWIV型四通道樁基超聲波檢測(cè)儀簡(jiǎn)介
PDS-SWIV超聲波檢測(cè)儀是基于AT070TN83上開發(fā)的新型超聲波測(cè)試儀器，該機(jī)采用10寸LED背光觸摸液晶顯示屏并以WindowsCE為工作平臺(tái)操作簡(jiǎn)單便捷?？梢愿鶕?jù)個(gè)人喜好選擇按鍵或者手觸兩種方式操作。該聲波檢測(cè)儀具有高分辨、高增益、高靈敏、高精度、線性好、低功耗等優(yōu)點(diǎn)，PDS-SWIV型四通道樁基超聲波檢測(cè)儀可廣泛應(yīng)用于：
·透射法：
1、平面超聲波測(cè)試： 完整性，缺陷、強(qiáng)度、力學(xué)參數(shù)測(cè)試。
2、錘擊平面聲波測(cè)試：完整性，缺陷，強(qiáng)度，力學(xué)測(cè)試。
3、孔中聲波測(cè)試：巖體強(qiáng)度化分，基樁完整性檢測(cè)。
4、孔中錘擊測(cè)試： 巖體橫波聲速分層，彈性力學(xué)參數(shù)測(cè)試。
5、孔中聲CT層析成像： 巖體軟弱結(jié)構(gòu)面，溶洞檢測(cè)折射法。
·PDS-SWIV型四通道樁基超聲波檢測(cè)儀折射法：
1、平面超聲波測(cè)試： 砼損傷層檢測(cè)。
2、平面超聲波測(cè)試：巖體松動(dòng)范圍檢測(cè)。
3、一發(fā)雙收單孔檢測(cè)：巖體風(fēng)化殼、軟弱結(jié)構(gòu)面劃分。
4、孔中彈性波測(cè)試： 縱、橫波聲速地層分層評(píng)價(jià)，彈性力學(xué)參數(shù)測(cè)試。
·PDS-SWIV型四通道樁基超聲波檢測(cè)儀反射法：
1、平面超聲波測(cè)試：砼路面厚度測(cè)試。
2、錘擊反射波法：砼厚度及缺陷檢測(cè)。
PDS-SWIV型四通道樁基超聲波檢測(cè)儀技術(shù)參數(shù)
|
儀器名稱
|
PDS-SWIV超聲波檢測(cè)儀
|
|
采樣間隔
|
0.1us～50ms
|
|
采樣通道
|
4個(gè)獨(dú)立通道，一次完成6個(gè)剖面
|
|
測(cè)讀方式
|
手動(dòng)游表、自動(dòng)尋找首波的聲時(shí)與聲幅
|
|
測(cè)讀參數(shù)
|
聲時(shí)與聲幅二維參數(shù)
|
|
發(fā)射方式與頻率
|
單次發(fā)射和連續(xù)發(fā)射，＞10次/秒
|
|
發(fā)射電壓
|
發(fā)射電壓500V/1000V；發(fā)射脈寬1us～1000us；數(shù)字調(diào)節(jié)
|
|
換能器標(biāo)稱頻率
|
10K；25K；50K；100K；250K；500KHz
|
|
放大器帶寬
|
1K ～ 500kHz
|
|
接收靈敏度
|
＞=10uv
|
|
顯示方式
|
10寸寬屏TFT液晶顯示器
|
|
數(shù)據(jù)輸出
|
專用ＰＤＳ文件格式
|
|
掃描寬度
|
采樣長(zhǎng)度 * 采樣間隔 =102.4us～51.2s
|
|
掃描延時(shí)
|
延遲點(diǎn)數(shù) * 采樣間隔 = 0us ～ 500s
|
|
游標(biāo)定義
|
2個(gè)游標(biāo)
|
|
測(cè)量穩(wěn)定性
|
通過國(guó)家計(jì)量認(rèn)證
|
|
使用環(huán)境
|
工作溫度：-20℃～+60℃，相對(duì)濕度：０～95%ＲＨ
|
|
供電能力
|
AC：200～240V，DC：5～8.4V；鋰電池組供電時(shí)間＞6小時(shí)
|
|
尺寸重量
|
280×160×40mm,儀器自重1.8KG
|
PDS-SWIV型四通道樁基超聲波檢測(cè)儀計(jì)算機(jī)系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)
|
芯片組
|
CortexTM-A8
|
|
主頻
|
1GHz
|
|
內(nèi)存
|
1G
|
|
顯示
|
10寸寬屏TFT液晶顯示器
|
|
FLASH
|
1G
|
|
總線界面
|
觸摸屏
|
|
接口
|
USB RS232 以太網(wǎng)
|
|
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
|
2G – 16G SD卡
|
|
電池容量
|
5.2AH
|
|
操作系統(tǒng)
|
Windows CE 6.0
|
|
工作溫度
|
-20℃～+60℃
|
（北京中建路業(yè)儀器設(shè)備有限公司網(wǎng)址：gzzhkj.com）
